产品介绍
XTDIC系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术，通过追踪物体表面的散斑图像，实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移场及应变场的测量，具有便携，速度快，精度高、易操作等特点；与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移场及应变场的测量。
技术优势
实时测量，实时计算，实时输出
可以实时进行全场应变计算和结果显示，而非事后处理；采集图像的同时，可以实时进行三维全场应变计算，具备在线和离线两种计算处理模式，支持计算结果的UDP等方式实时输出。
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