半导体测试方法之NI优势
降低测试成本
一个适用于特性分析到生产的平台方法，为RF和混合信号测试提供了更低成本的高性能测试解决方案
更快速的测试
NI半导体测试客户反映：在满足测量和性能要求的同时，测试时间缩短了10倍。
更精准的测量
NI产品提供了业界领先的测量精度，并通过NI校准和系统服务来确保精度的长期有效性。
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